Semiconductor Application Reliability

              Reliability and Failure Analysis in Semiconductor Device Applications | Reliability and Failure Analysis in Semiconductor Device Applications | [pic] | 2001-11-23 Ma Xuan, Lishan Microelectronics Company (Xi\'an 710075) | Abstract This paper statistically analyzes some of the main failure causes of semiconductor device failures, and explains the important role played by failure analysis in improving the quality and reliability of semiconductor devices and electronic products. | Keywords | Reliability of semiconductor devices | 1 Introduction | Failure analysis of semiconductor devices is to determine the form of device failure (failure mode), analyze the physical and chemical processes that cause device failure (failure mechanism), find the cause of device failure, and formulate corrective and improvement measures by conducting various tests and physical, chemical, and metallographic tests on failed devices. Strengthening the failure analysis of semiconductor devices and improving their inherent reliability and reliability in use is the most active and fundamental way to improve the quality of electronic products, and plays a very important role in improving the reliability of the entire machine. || Based on some failure analysis cases completed by the Semiconductor Device Failure Analysis Center of China Aerospace Corporation in recent years, this paper statistically analyzes some of the main failure causes of semiconductor device failures, and uses some specific analysis examples to illustrate the role of failure analysis in improving semiconductor device performance.