Integrated Circuit Testing Technology (Wu Qianwen)

This book introduces integrated circuit testing technology in a comprehensive and systematic way. The book is divided into 10 chapters, and the main contents include: Overview of integrated circuit testing, digital integrated circuit testing technology, analog integrated circuit testing technology, digital-analog hybrid integrated circuit testing technology, radio frequency circuit testing technology, SoC and other typical circuit testing technology, integrated circuit design and testing link technology, test interface board design technology, integrated circuit testing equipment, and intelligent testing. A detailed test experiment guide is also attached at the end of the book, which can effectively guide readers to carry out related test program development experiments. This book can be read and used by scientific researchers and engineering technicians in related fields such as integrated circuit testing, and can also be used as a teaching book for related majors such as electronic science and technology and microelectronics engineering in colleges and universities. Chapter 1 Overview of IC Testing 1.1 Introduction 1.1.1 Definition of IC Testing 1.1.2 Basic Principles of IC Testing 1.1.3 Significance and Function of IC Testing 1.2 Main Links of IC Testing 1.2.1 Test Plan Development 1.2.2 Test Interface Board Design 1.2.3 Test Program Development 1.2.4 Test Data Analysis 1.3 Classification, Industry Status and Development Trends of IC Testing 1.3.1 Classification of IC Testing 1.3.2 Industry Status and Development Trends of IC Testing 1.4 Challenges Facing IC Testing 1.4.1 Industry Development Challenges 1.4.2 Test Technology Challenges Chapter 2 Digital IC Testing Technology 2.1 Overview of Digital IC Testing Technology 2.2 General Digital Circuit and ASIC Testing Technology 2.3 Common Testability Design Technologies for General Digital Circuits 2.3.1 Built-in Self-Test Technology 2.3.2 Scan Design Testing Technology 2.4 Memory Testing Technology 2.4.1 Failure Modes and Failure Models of Memory 2.4.2 Memory Testing Methods 2.5 2.5.1 Testing algorithm for functional modules 2.5.2 Instruction testing method 2.5.3 Testing content 2.5.4 Test vector generation method 2.6 Microprocessor testing technology 2.6.1 Microprocessor testing content 2.6.2 Microprocessor testing method 2.7 Programmable device testing technology 2.7.1 Overview of commonly used programmable devices 2.7.2 Programmable device testing method Chapter 3 Analog integrated circuit testing technology 3.1 Overview of analog integrated circuit testing technology 3.2 General analog circuit testing technology 3.3 Amplifier testing technology 3.3.1 Testing method for integrated operational amplifiers 3.3.2 Parameter measurement of integrated operational amplifiers 3.4 Conversion circuit testing technology 3.4.1 Level converter (LDO) 3.4.2 Voltage-frequency converter 3.5 Analog switch testing technology 3.6 DC-DC converter testing technology Chapter 4 Digital-analog hybrid integrated circuit testing technology 4.1 Overview of digital-analog hybrid integrated circuit testing technology 4.2 DSP-based testing technology 4.2.1 4.2.1 Introduction to RF circuit testing technology 5.2.2 RF preamplifier testing technology 5.2.3 Introduction to RF preamplifier 5.2.4 RF preamplifier parameters and test methods 5.3 RF mixer testing technology 5.3.1 Introduction to RF mixer 5.3.2 RF mixer parameters and test methods 5.4 RF filter testing technology 5.4.1 Introduction to RF filter 5.4.2 RF filter parameters and test methods 5.5 RF power amplifier test technology 5.5.1 Introduction to RF power amplifier 5.5.2 RF power amplifier parameters and their test methods Chapter 6 SoC and other typical circuit test technology 6.1 Overview of SoC test technology 6.2 Main difficulties in SoC test 6.2.1 SoC failure mechanism and failure model 6.2.2 Analysis of SoC test difficulties 6.3 Key technologies for SoC test 6.3.1 Basic test structure 6.3.2 Test loop design 6.3.3 IP core test time analysis 6.3.4 SoC test optimization technology 6.4 Overview of other typical device test technology 6.4.1 SIP test technology 6.4.2 MEMS test technology Chapter 7 Link technology for integrated circuit design and test 7.1 Overview of link technology for integrated circuit design and test 7.2 Problems faced in the link between design and test 7.3 Design for testability technology 7.3.1 Principles of design for testability 7.3.2 Key issues of design for testability 7.4 Design verification technology 7.4.1 Simulation verification 7.4.2 Formal verification 7.4.3 Assertion Verification 7.5 Common Test Vector Formats and Conversion Tools 7.5.1 Common Simulation Vector Formats 7.5.2 Common Test Vector Conversion Tools Chapter 8 Test Interface Board Design Technology 8.1 Overview of Test Interface Board 8.1.1 Basics of Test Interface Board 8.1.2 Importance of Test Interface Board Design 8.2 Design and Manufacturing of Test Interface Board 8.2.1 Introduction to Test Interface Board Design Process 8.2.2 General DIB Design Principles 8.2.3 Special DIB Design Principles 8.2.4 DIB Material Selection 8.3 Test Fixture Selection 8.4 Signal Integrity Design Technology 8.4.1 Introduction to Transmission Lines 8.4.2 Reflection 8.4.3 Crosstalk 8.5 Power Integrity Design 8.6 Reliability Design of Test Interface Board 8.6.1 Component Selection 8.6.2 Electromagnetic Compatibility Design 8.6.3 DIB Size and Component Arrangement 8.6.4 Thermal Design Chapter 9 Integrated Circuit Test Equipment 9.1 Digital Integrated Circuit Test System 9.1.1 9.1.2 Digital SSI/MSI test system 9.1.3 Digital large-scale integrated circuit automatic test system architecture 9.2 Analog integrated circuit test system 9.3 Mixed-analog integrated circuit test system 9.3.1 Structure of mixed-analog integrated circuit test system 9.3.2 System of mixed-analog integrated circuit test system 9.3.3 Example of mixed-analog integrated circuit test system 9.4 Memory test system 9.4.1 Overall structure of system test 9.4.2 Generation of test graph algorithm for memory test system 9.5 Integrated circuit test system based on standard bus 9.5.1 System application overview 9.5.2 Application of virtual instrument 9.5.3 Example of general integrated circuit test system based on standard bus 9.6 Reliability-related test equipment 9.6.1 Sorter 9.6.2 Probe station Chapter 10 Intelligent testing 10.1 Test big data 10.1.1 Industry trend centered on \"data\" 10.1.2 Test data type 10.1.3 Test big data analysis and mining 10.2 Test data analysis methods and tool software 10.2.1 Test data analysis methods 10.2.2 Test data analysis tool software 10.3 Cloud testing 10.3.1 Remote real-time control 10.3.2 Adaptive testing 10.4 Future testing 10.4.1 Automotive electronics testing 10.4.2 System-level packaging testing Appendix A Integrated circuit testing experiment A.1 Experimental purpose A.2 Experimental content and steps A.3 Introduction to the test platform A.4 Introduction to the chip under test and test item extraction A.4.1 Introduction to the chip under test A.4.2 Test item extraction A.5 Test program development A.5.1 Test program development process A.5.2 Test program development steps References