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Improvement of pulsed surface acoustic wave test system and measurement of high-frequency photoconductivity of polymer materials

  • 2013-09-16
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脉冲表面声波测试系统改良与测量高分子材料高频光导电度表面波(Surface Acoustic Wave,SAW)是一项相当灵敏的测量工具,而我们所组装之脉冲讯号的type-Ⅱ锁相回路(phase lock loop, PLL),可以藉由SAW 量测材料导电率的改变,即经由锁相回路PLL 所反映出的SAW 速度的改变及衰减量改变来测知导电率变化。目前我们所组装之脉冲讯号锁相回路系统( PLL),具有大的使用频宽,可从100MHz到18GHz,以便搭配各种不同频率SAW 组件。另外本系统可鉴别极微小的讯号,既使SAW 组件本身功率衰减100dBm 亦可达成锁相。如此架构起一精准的测试系统,藉此来探讨样品本身或者是周围环境所带给SAW 的影响,更近一步得知其中参数的细微变化,非常有利于做精密的物理特性量测。高分子材料在近代光电工业的发展上扮演一个重要的角色,范围涵盖半导体,电子封装,信息产业等。聚乙烯 唑(poly-n-vinylcarbazole ,PVK)是一种典型的光电导高分子材料,被广泛用作电洞传输材料,其特性仅限制于紫外光波长范围。我们将PVK 涂布在SAW 延迟线组件上,利用PLL 系统测量PVK 在照光下导电度的改变。

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