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Mobile phone motherboard test

  • 2013-09-29
  • 1021.5KB
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              Mobile phone motherboard test procedure Table of contents Preface IV 1 Scope 12 Normative references 13 Terms and definitions 14 Test environment and instruments 2 4.1 Normal test environment 2 4.2 Test instruments and equipment 25 Test content list 36 Wireless index test 5 6.1 Conventional RF performance test 5 6.1.1 Frequency error and phase error 5 6.1.2 Transmitter carrier peak power and burst pulse timing 6 6.1.3 Output RF spectrum 8 6.1.4 Reference sensitivity 9 6.1.5 Receiver effective input level range 10 6.1.6 RXLEV 11 6.1.7 Receiver applicable input level 11 6.1.8 Co-channel suppression capability 12 6.1.9 Adjacent channel suppression capability 13 6.1.10 Intermodulation suppression capability 14 6.1.11 Receiver blocking and spurious response suppression capability 14 6.1.12 Receiver AM suppression capability 15 6.1.13 Spurious emission 16 6.2 Long-term operation test 18 6.2.1 Transmit power and pulse envelope timing 18 6.2.2 Frequency error and phase error 18 6.2.3 Transmit output spectrum 18 6.2.4 Reference sensitivity 19 6.2.5 Low voltage long-term operation 19 6.3 GPRS RF performance test 20 6.3.1 Frequency error and phase error 20 6.3.2 Transmit power and pulse envelope timing 2……             

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