Signal-oriented virtual-to-real mapping technology

This paper introduces a method for describing the correspondence between actual physical instruments and virtual resources in the test development process. Through this mapping method, the signal-oriented characteristics and instrument interchangeability characteristics of the test system can be realized. This method is mainly used in the system integration and resource description process in the development of automatic test systems. In the previous automatic test system development process, test process developers not only need to understand the signal characteristics of the unit under test, but also need to understand the instrument parameter configuration process used in the test to complete the development process of a test process. Moreover, all process configuration parameters are set for specific instruments, which brings the following problems: 1) There are high technical requirements for process developers. Process developers are generally more concerned about and good at signal analysis of UUT (Unit Under Test) and logical structure analysis of test processes. However, in the previous process configuration process, when configuring each test point, it is necessary to configure the parameters of the specific instrument used at the test point. This requires process developers to be familiar with the use of specific instruments at the same time. It is easy to handle simple and commonly used instruments. If you encounter complex or special instruments, you may need to read a lot of user manuals to understand their use process. This greatly disperses the energy of process developers, thereby extending the test development cycle and reducing the efficiency of test development. 2) When the instrument changes, a lot of modification work needs to be done. Since all configurations in the process development process are completed for specific instruments, when the test instrument changes, it is usually the case that the parameter configuration process of the new instrument is completely different from that of the original instrument. In this way, it is necessary to rewrite the driver of the new instrument and the new instrument configuration interface, and reconfigure the test process, which also greatly reduces the efficiency of test development. The virtual-to-real mapping method introduced in this article is mainly used in system integration in the early stage of test system development.