pdf

Test-driven embedded C language development

  • 2015-05-03
  • 32.02MB
  • Points it Requires : 2

Test-Driven Embedded C Development Test-Driven Embedded C Development introduces in depth how to apply test-driven development methods to embedded C development. The first part introduces two open source test frameworks and develops the first module through test-driven development methods. The second part introduces in depth the testing techniques for code that interacts with other modules in the system, such as test doubles and mock objects. The third part introduces designing and continuously improving code, such as some important principles for writing better code, advanced techniques for building testable and flexible designs, practical methods for improving existing code, refactoring techniques, improving legacy code, and guidelines for writing and maintaining tests. The code in Test-Driven Embedded C Development is almost entirely written in C and can be used in embedded, constrained development and execution environments. Test-Driven Embedded C Development is a summary of the author\'s many years of practical experience. It is highly practical and suitable for embedded C/C++ language programmers and engineers.

unfold

You Might Like

Uploader
tiankai001
 

Recommended ContentMore

Open source project More

Popular Components

Just Take a LookMore

EEWorld
subscription
account

EEWorld
service
account

Automotive
development
circle

About Us Customer Service Contact Information Datasheet Sitemap LatestNews


Room 1530, 15th Floor, Building B, No.18 Zhongguancun Street, Haidian District, Beijing, Postal Code: 100190 China Telephone: 008610 8235 0740

Copyright © 2005-2024 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved 京ICP证060456号 京ICP备10001474号-1 电信业务审批[2006]字第258号函 京公网安备 11010802033920号
×